四點探針量測儀

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儀器介紹／用途：四點探針法是測量薄膜電阻最常用的一種方法，利用外側兩探針間加固定電流，並同時量測另外兩個內探針間之相對電壓計算其電性。

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四點探針量測系統配備四點探針座、精密儀器、以及軟體，用以量測顯示試片的電阻、片電阻、體電阻率、電導率。適用於ITO膜/玻璃、ITO膜/軟性基板、ITO膜/矽晶、矽晶片、導電 ...

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RT-70V是由日本Napson公司推出的桌上型手動四探針電阻率量測設備。它運用四探針電阻率量針對半導體及其他導電材料進行測量，同時根據各種不同的需要，配備了多款不同的 ...

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四點探針量測儀 ; 英文名稱. Four Point Probe ; 功能說明. 6晶圓I-V Curve及薄膜表面電阻量測 ; 儀器服務項目. I-V Curve及薄膜表面電阻量測 ; 儀器廠牌. EVERBEING ; 型號.

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電阻量測最常見的方法就是用一個三用電表的兩根探針點在被測物件的兩. 端，然後從電表上就可讀到電阻。這是我們最常用來量一個電阻元件的電阻以.

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F06四點探針電阻量測儀(Four-Point Probes Resistance Meter) · 成功校區化學系陳以文老師實驗室 · 姓名：黎彥宣、黃浩然 · 電話： · E-mail · 樣品寄送地址：701/台南市 ...

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它可以通過電腦進行控制，編輯測試需要測試的矽片大小，測試點位，運用四探針電阻率量測的原理進行多點測量，可以通過軟件輸出2D/3D Mapping圖，更高效的完成測量任務。

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X-Y樣品滑台可手動快速/微調移動位置，在固定點進行量測 · 可進行ㄧ般直線型四點探針與霍爾Van Der Paul方式，萃取電阻,片電阻,電阻率與導電度 · 電阻量測模式支援DC, 掃描, ...